İlk kez tek bir atom, X-ışınıyla gözlemlendi

Argonne Ulusal Laboratuvarı ile Ohio ve Illinois-Chicago üniversitesitelerinden bir grup bilim insanı, dünyada ilk kez tek bir atomu X-ışınıyla gözlemledi. Ekip, birer demir ve terbiyum atomu seçerek, Senkrotron X-ışını Taramalı Tünelleme Mikroskobu (SX-STM) olarak bilinen öncü bir teknik kullanarak atomları tek tek tanımladı. SX-STM, X-ışını ile uyarılmış elektronları toplamak için numuneye aşırı yakın konumlandırılmış keskin bir metal uçtan oluşuyor. Araştırmaya ilişkin açıklamalarda bulunan baş araştırmacı Prof. Swa Wai Hla, yürütülen çalışmanın; çevresel, tıbbi ve kuantum araştırmalarında yeni keşiflerin önünü açacağınI vurguladı. İnsanlığın kaderini değiştirebilir Söz konusu çalışmanın, "insanlığın kaderini değiştirecek" önemli bir potansiyele sahip olduğunu kaydeden Swa, "Bu buluş dünyayı değiştirecek." dedi. Swa, atomların, Taramalı Sondalı Mikroskoplarla (SPM) gözlemlenebildiğini ancak bu atomların, X-ışını olmadan kimyasal yapılarının tespit edilemediğini söyledi.